| 品牌：TOHNICHI/东日 | 型号：pct-35 | 加工定制：否 |
| 材质：见详细说明 | 温度范围：见详细说明℃ | 测量范围：见详细说明 |
| 工作室尺寸：见详细说明mm | 重量：见详细说明kg |
pct高压老化箱应用范围：()
pct高压老化箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
pct高压老化箱设备特点：()
1. PCT老化试验箱圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.
2. 圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击.
3. 水管采用铜管+喇叭口，精密设计,气密性良好,耗水量少。
4. PCT测试仪实验开始前可将原来内箱之空气抽出，并吸入过滤器,过滤之新空气packing<1micom.以确保箱内之纯净度.
5. 临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示.
6. 机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.
7. 水箱采用16L大容量水箱，置于箱体底部，采用自动***功能;试验不终断 ; 试验结束时设备会自动泻除压力.
pct高压老化箱满足标准：(www.aslitest.cn)
1.IEC60068-2-66 2.JESD22-A102-B 3.EIAJED4701 4.EIA/JESD22
pct高压老化箱规格参数：
型号 PCT-250 PCT-350 PCT-450 PCT-550 PCT-250M PCT-350M
控制器 微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器
分辨率 温度：0.1压力：指针式0.1
控制稳定度 温度：±0.5℃，湿度：***
内箱材质 SUS316#不锈钢
外箱材质 ***钢板烤漆或不锈钢(依客户选择)
尺寸(cm) 内箱 Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45
外箱 W65×H55×D60 W70×H65×D70 W85×H75×D85 W100H90×D90 W65×H55×D60 W70×H65×D70
温度范围 110℃～132℃ 110℃～147℃
湿度范围 ***RH饱和蒸气
压力范围 表压力+0.2～2.0kg/cm2 表压力+0.2～3.5kg/cm2
加压时间 大约45分钟 大约55分钟
循环方式 水蒸气自然对流循环
安全保护 感温器检测保护，阶段高温保护，阶段高压保护，箱门压力限制，水箱缺水报警断电，温度加热器保护，湿度加湿器保护，***阶段高温保护，***阶段高压保护，第三阶段紧急泄压保护，，手动泄压保护，自动泄压等。
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